环境老化试验系统st-htxb

陕西天士立科技有限公司提供环境老化试验系统st-htxb。

环境老化试验系统st-htxb

  

陕西天士立科技有限公司

半导体检测·电学检测·老化实验

环境老化试验系统st-htxb

基础信息

1. 适用于各种封装类型的diode、bjt、mos-fet、scr、桥堆、igbt单管/模块、ipm模块等环境老化试验

2. 包括高温反偏/htrb，高温栅偏/htgb，高温高湿反偏试

3. 验/h3trb，其中htrb和htgb可二合一

4. 漏电流检测1na~20ma，高压2000v@3000v

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主要配置

 

 

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性能指标

 

 

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     关键词： 半导体分立器件静态动 - IGBT静态动态参数 - MOS-FET管场效 - 可控硅参数测试设备 - 光耦参数测试仪