晶体管直流参数测试系统std2000

晶体管直流参数测试系统std2000

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王伟
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晶体管直流参数测试系统std2000

 

陕西天士立科技有限公司

半导体检测·电学检测·老化实验

晶体管直流参数测试系统std2000

基础信息

测试分析功率器件研发设计阶段的初始测试

失效分析:失效器件测试,失效机理,设计方案gaishan

选型配对:器件焊接pcb之前测试,按器件一致性分类配对

来料检验:部对入厂器件进行抽检/全检,把控良品率

量产测试:连接机械手、扫码枪、分选机等进行量产测试

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晶体管直流参数测试系统std2000

产品特点

三代半:youxiu的性能应对第三代半导体及传统器件,si,sic,gan器件

测试品类:覆盖25类常见的电子元器件及ic类,且支持定制扩展

功能丰富:轻松表征元器件“静态特性”“iv曲线”“cxss”“cv”

分析筛选:功能全面,配置丰富,胜任实验室场景中各类电参数表征

量产测试:1h gaoda7k~12k的测试效率,可连接“分选机”“编带 机”prober接口、16bin。

一键加热:一键脉冲自动加热至+130°c,耗时<1s;

高压源:1400v(选配2kv)

高流源:40a(选配100a,200a,500a)

驱动电压:20v/10ua~100ma(选配+40v/10ua~100ma)

漏电测量:1na漏电持续稳定测量,表现出youxiu的一致性和稳定性,更有1.5pa微电流测量选件可供选择。

gaojingdu:16位adc/dac,0.1%精度,1m/s采样速率.

程控软件:基于labview平台开发的填充式菜单软件界面:

夹具工装:适配各类封装形式的器件,自动识别器件极性npn/pnp.

校准:系统自带校准软件,也可通过rs232接口连接数字表进行校验

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晶体管直流参数测试系统std2000

测试品类

01.diode/二极管(稳压、瞬态、三端肖特基、tvs、整流桥、三相整流桥)

02.bjt/三极管

03.mosfet&jfet/场效应管

04.scr/可控硅(单向/双向)

05.igbt/绝缘栅双jida功率晶体管

06.oc/光耦

07.relay/继电器

08.darlingtontube/达林顿阵列

09.currentsensor/电流传感器

10.基准ic(tl431)

11.电压复位ic

12.稳压器(三端/四端)

13.三端开关功率驱动器

14.七端半桥驱动器

15.高边功率开关

16.电压保护器(单组/双组)

17.开关稳压集成器

18.压敏电阻

19.电压jiankong器

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晶体管直流参数测试系统std2000

测试参数

漏电参数:ir、icbo、lceo/s/x、idss/x、idoff、idrm、irrm、icoff、idgo、ices、igesf、igesr、iebo、igssf、igssr、igss、igko、ir(opto)

击穿参数:bvceobvces(300μspulseabove10ma)bvdss、vd、bvcbo、vdrm、vrrm、vbb、bvr、vd+、vd-、bvdgo、bvz、bvebo、bvgss、bvgko

导通参数:vcesat、vbesat、vbeon、 vf、vt、vt+、vt-、von、vdson、vdon、vgson、vf(opto-diode)vgsth、vtm、vgeth、vsd、idon、vsat、idon、vo(regulator)notch=igt1、igt4、icon、vgeon、、iin(regulator)

关断参数:vgsoff

触发参数:igt、vgt

保持参数:ih、ih+、ih-

锁定参数:il、il+、il-

增益参数:hfe、ctr、gfs

间接参数:il

混合参数:rdson、gfs、input@output/regulation

 

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晶体管直流参数测试系统std2000

性能指标

 

 

 

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     本公司主营: 半导体分立器件静态动 - IGBT静态动态参数 - MOS-FET管场效 - 可控硅参数测试设备 - 光耦参数测试仪
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