可控硅阻断特性测试仪scrd5kv

陕西天士立科技有限公司提供可控硅阻断特性测试仪scrd5kv。

可控硅阻断特性测试仪scrd5kv

陕西天士立科技有限公司

半导体检测·电学检测·老化实验

可控硅阻断特性测试仪scrd5kv

产品简介

1. 该测试仪电路主要分为控制电路和高压电路两部分。测试仪接通电源后，由电子调压器调整高压变压器的输出，经整流及正反向转换后，产生频率为50hz、底宽10ms的正弦半波电压施加到被测器件两端，同时电压经衰减后反馈到控制电路，经运放采样电路整定后输入单片机，由单片机抓取峰值并显示，漏电流由回路中的标准取样电阻取得，经运放采样电路后输入单片机，由液晶屏显示。

2. 被测元件达到电压或电流设定值，单片机输出低电平信号，电子调压器回零，切断主电路中的固态继电器，使其关断，高压及被测元件失电，从而起到保护元件的作用。

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可控硅阻断特性测试仪scrd5kv

基础信息

1. 测试对象：晶闸管、双向晶闸管、整流二极管、桥堆

2. 测试参数：vdrm、vrrm、idrm、irrmvrrm、irrm

3. 测试标准：<反向阻断晶闸管测试方法>（jb/t7626-2013）

4. 操控方式：单片机程控，结果和曲线触摸屏显示，u盘可拷贝

5. 产品结构：台式单机，程控操作，电压及漏电自保护

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可控硅阻断特性测试仪scrd5kv

性能指标

断态及反向重复峰值电压（vdrm、vrrm）

1. 调节范围：0～5.00kv连续可调

2. 控制精度范围：0.50～5.00kv

3. 分辨率0.01kv，精度±3%

断态及反向重复峰值漏电流（idrm、irrm）

1. 测试范围：0～100.0ma

2. 分辨率0.1ma，精度±3%±0.2ma

3. 电压波形：正弦半波

4. 测试频率：50hz/5hz

5. 测试数据显示方式：液晶屏

6. 测试方式：自动

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