晶体管动态特性测试系统sta1200

√ 标配（开关测试单元 / turn_on/off

漏极电压： 5v-1200v， 分辨率 1v

漏极电流： 1a-100a， 分辨率1a；

栅极驱动： ±20v （选配±30v）， 分辨率 0.1v

栅极电流： 2a/max

脉冲宽度： 1us-500us,步进 0.1us

时间精度： 1ns

感性负载： 0.01mh-160mh 程序控制， 步进 10uh

阻性负载： 1ω、2ω、5ω、10ω、50ω ,  程控， 备用三个电阻

开关时间： ton/toff： 1-10000ns分辨率1ns （选配400/200/100ps）

开关yc： td(on)/td(off）： 0.1-10000ns@1ns （选配400/200/100ps）

上下时间/tr/tf： 1-10000ns分辨率1ns （选配400/200/100ps）

开关损耗/ eon/eoff： 1-2000mj 小分辨率 1uj

√ 标配  栅极电荷单元 / qg

驱动电流： 0-2ma， 分辨率 0.01ma

2-20ma， 分辨率 0.1ma

20ma-200ma， 分辨率 1ma

栅极电压： ±20v （选配±30v） @0.1v

恒流源负载： 1-25a， 分辨率0.1a

25-100a(选配200a/300a)@1a

漏极电压： 5-100v， 步进 0.1v

100-1200v， 步进 1.0v

栅极电荷 qg： 1nc-100μc

漏极电荷 qgs： 1nc-100μc

源极电荷 qgd： 1nc-100μc

平台电压 vgp： 0~30v， 分辨率 0.1v

√ 标配  二极管反向恢复测试单元 / qrr_frd

正向电流： 1a-25a， 分辨率 0.1a

25a-100a （选配200a/300a） 分辨率 1a

反向电压： 5v-100v， 步进 0.1v

100v-1200v， 步进 1.0v

反向恢复时间 trr： 1-10000ns， 小分辨率1ns （选配400/200/100ps）

反向恢复电荷 qrr： 1nc-100μc， 小分辨率 1nc；

反向恢复电流 irm： 1a-100a （选配200a/300a）；

反向恢复损耗 erec： 1-2000mj， 小分辨率 1uj；

电流下降率 dif/dt： 50-1ka/us；

电压变化率 dv/dt： 50-1kv/us。

*** 选配  短路特性测试单元/ sc

电流： 1000a/max

脉宽： 1us~100us

栅驱电压： ±20v （选配±30v） @0.1v

漏极电压： 5v~100v， 0.1v 分辨率

100v~1200v， 1.0v 分辨率

*** 选配  雪崩测试单元 / uis

雪崩耐量/eas： 100j

雪崩击穿电压/2500v

雪崩电流/ias： 1.0-400a 分辨率 1.0a

感性负载/0.01-160mh@10μh， 程控可调

*** 选配  容阻测试单元 / cr

扫频范围： 0.1mhz～5mhz

漏源极电压： 1200v， 分辨率 1v